SPRAWDŹ STATUS ZAMÓWIENIA
POMOC I KONTAKT
Ulubione
Kategorie

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

O Akcji

Akcja Podziel się książką skupia się zarówno na najmłodszych, jak i tych najstarszych czytelnikach. W jej ramach możesz przekazać książkę oznaczoną ikoną prezentu na rzecz partnerów akcji, którymi zostali Fundacja Dr Clown oraz Centrum Zdrowego i Aktywnego Seniora. Akcja potrwa przez cały okres Świąt Bożego Narodzenia, aż do końca lutego 2023.
Dowiedz się więcej
  • Promocja
    image-promocja

książka

Wydawnictwo PWN
Data wydania 2012
Oprawa miękka
Ilość stron 580
  • Wysyłamy w 24h

Opis produktu:

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii.
Zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:
- aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
- podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
- zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
- aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
- wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
- badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
- aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
- sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
- laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
- przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.
S
Szczegóły
Dział: Książki
Kategoria: nauki ścisłe,  różne
Wydawnictwo: PWN
Oprawa: miękka
Okładka: miękka
Rok publikacji: 2012
Wymiary: 168x238
Ilość stron: 580
ISBN: 978-83-01-17051-6
Wprowadzono: 05.11.2012

RECENZJE - książki - Wzorcowanie aparatury pomiarowej - Janusz Piotrowski, Krystyna Kostyrko

Zaloguj się i napisz recenzję - co tydzień do wygrania kod wart 50 zł, darmowa dostawa i punkty Klienta.

4.4/5 ( 12 ocen )
  • 5
    10
  • 4
    0
  • 3
    0
  • 2
    1
  • 1
    1

Wpisz swoje imię lub nick:
Oceń produkt:
Napisz oryginalną recenzję: